Symmetry and compact embeddings for critical exponents in metric-measure spaces

Michał Gaczkowski, Przemysław Górka, Daniel J. Pons

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

1 Cita (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Symmetry and compact embeddings for critical exponents in metric-measure spaces'. En conjunto forman una huella única.

Matemáticas