Modeling crack patterns by modified stit tessellations

Roberto León, Werner Nagel, Joachim Ohser, Steve Arscott

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Modeling crack patterns by modified stit tessellations'. En conjunto forman una huella única.

Keyphrases

Engineering

Material Science