Characterization of PZT films by scanning force microscopy (SFM)

Genaro Zavala, Susan E. Trolier-McKinstry, Janos H. Fendler

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

2 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Characterization of PZT films by scanning force microscopy (SFM)'. En conjunto forman una huella única.

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