A systematic fitting scheme for caustic-crossing microlensing events

N. Kains, A. Cassan, K. Horne, M. D. Albrow, S. Dieters, P. Fouqué, J. Greenhill, A. Udalski, M. Zub, D. P. Bennett, M. Dominik, J. Donatowicz, D. Kubas, Y. Tsapras, T. Anguita, V. Batista, J. P. Beaulieu, S. Brillant, M. Bode, D. M. BramichM. Burgdorf, J. A.R. Caldwell, K. H. Cook, Ch Coutures, D. Dominis Prester, U. G. Jørgensen, S. Kane, J. B. Marquette, R. Martin, J. Menzies, K. R. Pollard, N. Rattenbury, K. C. Sahu, C. Snodgrass, I. Steele, C. Vinter, J. Wambsganss, A. Williams, M. Kubiak, G. Pietrzyński, I. Soszyński, O. Szewczyk, M. K. Szymański, K. Ulaczyk, L. Wyrzykowski

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículo

12 Citas (Scopus)

Huella Profundice en los temas de investigación de 'A systematic fitting scheme for caustic-crossing microlensing events'. En conjunto forman una huella única.

Física y astronomía

Ciencias ambientales y de la tierra